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BX53M - BXFM Brochure

BX53M - BXFM Brochure
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Microscope système BX53M/BXFM La microscopie avancée simplifié

Un microscope conçu pour les applications industrielles et des sciences des matériaux Conçue pour offrir une excellente modularité, la série BX3M offre une grande polyvalence dans une large gamme d’applications industrielles et des sciences des matériaux. Grâce à l’intégration améliorée du le logiciel PRECiV™, le BX3M offre un flux de travaux continu pour les utilisateurs de la microscopie standard et de l’imagerie numérique, tant pour l’observation que pour la c

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La microscopie avancée simplifiée Convivial L’utilisation simplifiée et guidée des réglages du microscope facilite l’ajustement et la reproduction des paramètres du système. Fonctionnel Conçu pour la microscopie industrielle traditionnelle, le BX3M possède davantage de fonctionnalités vous permettant de l’utiliser pour un plus grand nombre d’applications, avec davantage de techniques de mesure. Composants optiques de précision Nous possédons une grande expérience dans la production de composants optiques de qualité, ce qui se traduit par la production d’images d’excellente qualité, aussi...

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Commandes intuitives du microscope : confort et facilité d’utilisation Les opérations d’inspection d’échantillons prennent souvent du temps, entre le réglage des paramètres du microscope, l’acquisition des images et la réalisation des mesures requises pour répondre aux exigences en matière de production de rapports. Il vous est peut-être déjà arrivé de devoir investir temps et argent pour suivre une formation professionnelle sur l’utilisation d’un microscope, ou d’utiliser un microscope sans avoir toutes les connaissances requises pour en exploiter le plein potentiel. Le microscope BX3M...

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Commandes intuitives du microscope L’utilisation d’un diaphragme d’ouverture et d’un diaphragme de champ correctement réglés garantit un bon contraste de l’image et permet d’utiliser entièrement l’ouverture numérique de l’objectif. Les indicateurs à côté des curseurs de réglage des diaphragmes vous aident à effectuer le bon réglage en fonction de la méthode d’observation et de l’objectif utilisés. Position incorrecte Indicateur d’échelle de mise au point : réglage rapide de la mise au point L’indicateur d’échelle de mise au point sur la potence permet d’accéder rapidement au point focal. Le...

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Fonctions adaptées pour divers types d’inspection et d’analyse La série BX3M se fonde sur les méthodes de contraste classiques utilisées en microscopie traditionnelle (fond clair, fond noir, lumière polarisée et contraste interférentiel différentiel). Le nombre croissant de nouveaux matériaux développés complique la détection des défauts avec les méthodes de contraste standard. Ces difficultés peuvent être résolues grâce à l’utilisation de techniques de microscopie avancées qui permettent d’effectuer des opérations de contrôle plus précises et plus fiables. Les nouvelles techniques...

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Fonction d’alignement d’images multiples (MIA) instantané : imagerie panoramique en toute simplicité Fonction d’imagerie à profondeur de champ étendue (EFI) : obtention d’images automatiquement mises au point Vous pouvez désormais assembler les images facilement et rapidement, en déplaçant les molettes XY de la platine manuelle ; aucune platine motorisée n’est nécessaire. Le logiciel PRECiV™ utilise la fonction de reconnaissance de structures pour générer une image panoramique qui offre à l’utilisateur un champ d’observation plus étendu qu’avec un format d’image normal. La fonction...

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Réalisation de mesures complexes Mesure de routine ou de base Comptage et mesure (Count and Measure) Différentes fonctions de mesure sont disponibles avec le logiciel PRECiV, pour obtenir facilement des données utiles à partir des images. Pour les opérations d’observation et de contrôle qualité, la possibilité de mesurer des éléments présents sur les images est souvent requise. Tous les types de licences PRECiV disposent de fonctions de mesure interactives permettant par exemple de mesurer les distances et les angles, et d’effectuer des mesures à partir de zones délimitées par des...

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Adapté à de nombreux formats d’échantillons Capacité d’analyse d’une grande variété de types et de tailles d’échantillon La nouvelle platine de 150 × 100 mm fournit une course plus longue que les modèles précédents sur l’axe X. Ayant également une surface plane, elle permet aux utilisateurs d’y placer facilement des échantillons de grande taille ou plusieurs échantillons. De plus, comme la plaque de la platine comporte des trous filetés, il est possible d’y fixer un porte-échantillon. La grande platine offre aux utilisateurs une grande polyvalence en leur permettant d’observer plusieurs...

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Grâce notre expérience dans la conception de composants optiques de pointe, nous proposons une gamme de produits de qualité optique reconnue et des microscopes ayant une excellente précision de mesure. Contrôle de l'aberration du front d'onde Système d'éclairage par LED Lors de l'utilisation d'un microscope pour des analyses approfondies ou pour l'intégration à un système, les performances optiques doivent être normalisées pour tous les objectifs. Nos objectifs UIS2 vont bien au-delà des normes de performance traditionnelles en ce qui concerne l'ouverture numérique (ON) et la distance de...

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