Catalogues >
Labthink Instruments Co., Ltd. >
Assurer l'intégrité des emballages de semi-conducteurs grâce à un instrument de test de chute de pression

Assurer l'intégrité des emballages de semi-conducteurs grâce à un instrument de test de chute de pression
4Pages

Extraits du catalogue

Assurer l'intégrité des emballages de semi-conducteurs grâce à un instrument de test de chute de pression - 1

Détecteur de fuites d'emballage non destructif C690H Le détecteur de fuite non destructif C690H est basé sur le principe de test de la méthode de décroissance du vide, conçu et fabriqué conformément à la norme ASTM F2338 et à d'autres normes. Il est parfaitement adapté à la détection de fuites de scellage par lots de flacons et à la détection de fuites de traces d'ampoules, de flacons à cartouche, de flacons de perfusion, de seringues préremplies et d'autres emballages pharmaceutiques. Caractéristiques Note 1 Tests par lots  Équipéd'un chargeur d'échantillons alimentépar gravitéentièrement automatique, qui est la dernière réalisation scientifique et technologique de Labthink qui peut faciliter les tests continus de 20 à 120 échantillons. La conception à double canal A et B peut tester simultanément des échantillons de deux spécifications différentes. Le degré de vide cible peut être défini par l'opérateur pour répondre aux exigences de test de différents échantillons. Les méthodes doubles de décroissance du vide et de décroissance de la pression offrent la flexibilité nécessaire pour s'adapter à différents types d'échantillons d'emballage. Technologie avancée de détection de pression, utilisant des composants de renommée mondiale pour la stabilité des données qui n'est pas affectée par l'environnement ambiant. Technologie avancée de contrôle automatique du débit par microflux qui peut simuler avec précision différentes tailles de trous de fuite sans réglage manuel. Le transducteur de pression différentielle et le débitmètre sont tous deux traçables au NIST.

Ouvrir le catalogue en page 1

Assurer l'intégrité des emballages de semi-conducteurs grâce à un instrument de test de chute de pression - 2

Tablette tactile intégrée de 15,6 pouces avec système d'exploitation Windows. Nouvelle disposition de l'interface longitudinale et interface utilisateur graphique facile à utiliser. Alarme automatique, capture automatique, collecte automatique des échantillons non qualifiés. La courbe de pression est affichée en temps réel et les résultats des tests sont comptés automatiquement. Les taux de fuite sont calculés automatiquement. Le système est équipé de divers capteurs servant de rappels intelligents pour un fonctionnement et un contrôle plus sûrs. Une imprimante universelle peut être...

Ouvrir le catalogue en page 2

Assurer l'intégrité des emballages de semi-conducteurs grâce à un instrument de test de chute de pression - 3

Applications étendues Différents tests d'étanchéité des flacons. Différents tests ampoules. Différents tests d'étanchéité de bouteilles à cartouche. Bouteilles à cartouches Flacons d'injection Test d'étanchéité de divers flacons d'injection. Paramètres techniques Tableau 1 : Paramètres de test Note 2 Paramètre \ Modèle um(Taille d'ouverture de référence USP1207) Limite inférieure de détection Exigences du système informatique GMP Fonctions étendues Tableau 2 : Spécifications techniques Cellule de test 1 jeu pour le groupe A et 1 jeu pour le groupe B Chargeur d'échantillons 1 jeu pour le...

Ouvrir le catalogue en page 3

Assurer l'intégrité des emballages de semi-conducteurs grâce à un instrument de test de chute de pression - 4

Alimentation électrique 120VAC±10% 60Hz / 220VAC±10% 50Hz (sélectionnez l'une des deux options) Tableau 3 : Configuration du produit Configuration standard Mainframe, tablette embarquée, logiciel, débitmètre, pompe à vide européenne, tube polyuréthane Φ6 mm Cellule d'essai et chargeur d'échantillons du groupe A, cellule d'essai et chargeur d'échantillons du groupe B, échantillon de référence standard négatif et échantillon de référence standard positif conçus conformément aux spécifications de l'échantillon Pièces optionnelles Exigences du système informatique GMP, 21 CFR Partie 11,...

Ouvrir le catalogue en page 4