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Visoria M flyer

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OPTIMISEZ VOS ROUTINES AVEC EFFICACITÉ ET CONFORT Microscope droit Visoria M Le microscope à matériaux Visoria M est destiné à l’inspection de routine dans les industries des métaux, de l’électronique et des polymères, ainsi qu’aux laboratoires de science des matériaux. Si vous possédez déjà un microscope droit DM2500, DM2700 M ou DM2700 P, vous pouvez passer à un statif Visoria sans devoir payer le prix d'un nouveau microscope. Vous n'aurez donc pas besoin d'une nouvelle platine, d'objectifs, de filtres, de tubes ou d'oculaires -vos composants actuels sont entièrement compatibles avec Visoria. Le statif Visoria est disponible en configuration traditionnelle (oculaires) ou numérique. > Gagnez du temps avec les paramètres de luminosité optimisés. La fonction de gestion de l’éclairage ajuste automatiquement la luminosité en cas de changement de méthode de grossissement ou de contraste. > Utilisez votre microscope en toute simplicité - Un code couleur permet de trouver rapidement le diaphragme d’ouverture et l’objectif adéquats, une butée de mise au point intégrée protège les échantillons et les objectifs, tandis qu’un système à trois vitesses offre une mise au point plus fine à fort grossissement. > Réduisez le risque d’inconfort et de microtraumatismes répétés lorsque vous passez de longues heures au microscope. Vous pouvez minimiser les mouvements répétitifs avec la série Visoria en réglant la hauteur et le couple de la commande de la platine. > Les boutons de commande de la position de la platine XY et de la mise au point du microscope Visoria sont très proches et facilement réglables d’une seule main. > Le microscope peut facilement être utilisé par un droitier ou un gaucher. Particulièrement utile lorsque le microscope est partagé avec d’autres utilisateurs. > Simplifiez votre documentation. Capture d’image par simple pression d’un bouton et paramètres du système automatiquement enregistrés avec les images. La plateforme logicielle Enersight vous aide à comparer, mesurer et partager des données de manière transparente grâce à une interface > Observez des échantillons avec un champ de vision plus grand et une meilleure résolution en faisant appel à la fonction d’assemblage XY. > Obtenez des images nettes d’échantillons avec une profondeur de champ étendue (EDOF). > Sélectionnez les paramètres d’éclairage et de caméra optimaux grâce à la fonction « Meilleure image ».

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MC-0010662 • 18.03.2025 • FR • Copyright © 2025 by Leica Microsystems GmbH. Sous réserve de modifica LEICA et le logo Leica sont des marques déposées de Leica Microsystems IR GmbH. Caractéristiques techniques de Visoria M Leica Microsystems GmbH | Ernst-Leitz-Strasse 17-37 | D-35578 Wetzlar (Allemagne) Tél. +49 (0) 6441 29-0 | Fax +49 (0) 6441 29-2599

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