Extraits du catalogue
Profilomètre 3D optique à très grande résolution verticale Gammes BW-S500/BW-D500 Gammes Profilomètre 3D optique à très haute résolution vert
Ouvrir le catalogue en page 1Grâce à la technologie de mesure par interférométrie optique brevetée par Nikon, la résolution du relief atteint 1pm*. * Résolution algorithmique Mesures rapides et précises de profils de surfaces, dans des plages de hauteur pouvant être inférieures au nanomètre jusqu'au millimètre, grâce à un seul mode de mesure. Prend en compte la technologie de traitement de haute précision et le développement avancé des matériaux du domaine de la science des matériaux. Caméra 419 Mpixels Gamme BW" 500 BW-S501/BW-S502/BW-S503/BW-S505/BW-S506/BW-S507 Résolution de hauteur effective 15 pm (incluant le...
Ouvrir le catalogue en page 2BW-S500/BW-D500Six modèles disponibles, en fonction de l'application et du coûtLes BW-S et BW-D sont disponible suivant les six combinaisons suivantes : Pour des mesures de hauteur supérieure à 100 pm (course de mesure du piézo) ■ 1 Pilotage de la tourelle par piézo Image de haute précision/très haute fréquence Acquisition grâce un objectif d'interférométrie à double faisceau Les appareils des gammes BW-S500/D500 utilisent des objectifs d'interférométrie à double faisceau et des algorithmes brevetés par Nikon permettant l'acquisition très rapide d'image de très haute définition. pr...
Ouvrir le catalogue en page 3Grande traçabilité et répétabilité 2.2 mm Les appareils des gammes BW-S500/BW-D500 sont calibrés à l'aide d'étalons de 8 nm ou 8 µm réalisés par le VLSI Step Height Standards, certifiées par le NIST. Ces systèmes de mesure de reliefs atteignent un très haut niveau de précision et de répétabilité. VLSI (Echantillon de 8 nm de hauteur) 9 nm Variations de la valeur de mesure de hauteur (avec un BW-S507 et éclairage à LED) Hauteur certifiée (NIST) : 8.9 nm ±0.6 nm Valeur moyenne avec un BW-S507 : 8,906 nm (10 mesures/ 0,031 nm) Valeur mesurée non sujette à variation de la longueur d’onde de la...
Ouvrir le catalogue en page 4Analyse de grandes surfaces grâce à l'assemblage. La platine électrique sur XY et le logiciel ‘Digital Stylus Software 3’ permettent d’assembler des images sur les BW-S503/D507 et les BW-D503/D507. L’assemblage peut être effectué horizontalement et verticalement. Image simple Acquisition automatique des images spécifiées Réglage de la plage d’affichage des reliefs Capable d'assemblage pouvant atteindre un ø20 mm, avec une plage de l’ordre de 10 μm. Assemblage des images acquises (avec un champ de vision 5x5)
Ouvrir le catalogue en page 5Logiciel Logiciel d'analyse couvrant les mesures de base, pour une analyse de pointe Transformeur d’image Analyseur à polynômes de Zernike Réalise la mesure automatique de la distance, de la hauteur et de l’angle entre deux points spécifiés par le curseur, ainsi que la rugosité bidimensionnelle (Ra, Rq, Rz)/tridimensionnelle (Sa, Sq, Sz) A partir des données de la surface d’un échantillon sphérique, la courbe idéale de la forme de la surface est calculée, permettant l'analyse de la rugosité de la surface de l'échantillon. Affichage de la section du profil et des résultats de mesure pour une...
Ouvrir le catalogue en page 6Unité microscope optique Commande piézo Course de scanning du piézo 100 gm Correction de planéité, correction du terme quartique Grossissement numérique Résolution de hauteur effective (bruit environnemental) Rugosité bidimensionnelle (Ra, Rq, Rz), rugosité tridimensionnelle (Sa, Sq, Sz) Mesure de la hauteur au curseur, de la distance et de l'angle entre deux points ; mesure de la valeur approchée du rayon d'un cercle, à un endroit spécifié du profil Sortie Sortie des images analysées et des indices relatifs à la rugosité vers un fichier Excel Automatic Processing Traitement automatique...
Ouvrir le catalogue en page 7BW- 500/BW-D500 Dimensions BW-S507 BW-D501 N.B. L'exportation des produits* présentés dans ce catalogue est soumise à la législation japonaise sur les relations extérieures et à la législation sur le commerce extérieur. Une procédure d'exportation conforme sera exigée en cas d'importation en provenance du Japon. *Produits: Le matériel et ses informations techniques (logiciels compris). TO ENSURE CORRECT USAGE, READ THE CORRESPONDING MANUALS CAREFULLY BEFORE USING THE EQUIPMENT. BWS500-D500_FR_0414 - Copyright Nikon Metrology NV 2018. Tous droits réservés. Les documents présentés ici sont de...
Ouvrir le catalogue en page 8Tous les catalogues et fiches techniques (PDF) Nikon Metrology
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VOXLS 40 C 450
5 Pages
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NEXIV VMZ R-Series
16 Pages
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CMM-Manager for iNEXIV
4 Pages
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CMM-Manager
8 Pages
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MCT225
4 Pages
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MCAx-MM
8 Pages
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LC60Dx
4 Pages
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LC15Dx
8 Pages
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XT V Série
12 Pages
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Laser Radar General
6 Pages
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XC65Dx(-LS)
2 Pages
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L100 scanner laser
8 Pages
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Focus
6 Pages
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K-Scan MMDx - K-CMM
4 Pages
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BW-Series
8 Pages
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XT V SERIES
7 Pages
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XT H 225 ST 2x
7 Pages
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VOXLS 30 SERIES
15 Pages
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XT H Series
7 Pages
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APDIS Automotive
7 Pages
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Industrial X-ray and CT
7 Pages
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NEXIV VMZ-S
5 Pages
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Autocollimator
4 Pages
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X-ray CT inspection services
1 Pages
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Overview brochure
40 Pages
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NEXIV VMZ-K Series
5 Pages
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NEXIV VMZ-H3030
3 Pages
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Microscope components
17 Pages
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Laser Radar Aerospace
6 Pages
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CAMIO8
16 Pages
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ALTERA CMM
8 Pages
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Newsmagazine Vol.13
28 Pages
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NWL200
5 Pages
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Eclipse MA200-MA100N
12 Pages
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Eclipse LV-N Microscopes
9 Pages
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VMZ-R Series
7 Pages
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MM-Series
15 Pages
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Stereo microscopes
32 Pages
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AZ100M-AZ100
20 Pages
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NIS-Elements
20 Pages
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Digital sight series
9 Pages
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Nikon Metrology Solutions
40 Pages
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Profile Projectors
12 Pages
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XT H Series
12 Pages
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Automated CT
8 Pages
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Configurable X-ray CT systems
12 Pages
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iNEXIV VMA series
5 Pages
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JEOL Smart Coater
2 Pages
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JCM 6000 Plus Neoscope
16 Pages
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iSpace Assembly Fabrication
4 Pages
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iSpace
6 Pages
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H14L
4 Pages
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eclipse E200pol
3 Pages
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Auto MeasureEyes
2 Pages
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gehl-kseries
2 Pages
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X.Tract
2 Pages
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Nikon Metrology News Vol.10
28 Pages
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Nikon Metrology News Vol.9
28 Pages
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LV100N POL Ci POL
5 Pages
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LV-DAF Brochure
2 Pages
Catalogues archivés
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K-Robot
2 Pages
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LC60D
2 Pages
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LC15
2 Pages
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XC50-LS
2 Pages
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NEXIV VMR Brochure
5 Pages
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Intensilight Brochure
3 Pages
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Eclipse L200 Series
5 Pages
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Eclipse LV Series Brochure
10 Pages
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Eclipse LV100-UDM-POL
3 Pages
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Neoscope JCM-6000 Brochure
6 Pages
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stereomicroscope SMZ1000
7 Pages
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Neoscope Brochure
4 Pages
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Optistation-3100
2 Pages
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AMI-3000
2 Pages
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COOLSCOPE
8 Pages
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BioStation IM
5 Pages
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BioStation CT
8 Pages
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Neoscope Brochure
4 Pages
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DXM-1200C
6 Pages
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Optistation-3100
2 Pages
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AMI-3000
2 Pages
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Eclipse FN1
7 Pages
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Eclipse E100 Brochure
5 Pages
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Fluorescence Filter Blocks
6 Pages
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Eclipse 50i/55i Accessories
5 Pages
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Laser TIRF System
7 Pages
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Eclipse TS100/TS100F
8 Pages
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Eclipse Ti Brochure
15 Pages
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Eclipse TE2000 Brochure
28 Pages
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COOLSCOPE
8 Pages
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BioStation IM brochure
5 Pages
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BioStation CT brochure
8 Pages