Extraits du catalogue
Inspection des composants électroniques par rayons X et Tomographie Numérique NIKON METROLOGY I VISION BEYOND PRECISION
Ouvrir le catalogue en page 1L’INSPECTION DES COMPOSANTS ÉLECTRONIQUES DEVIENT FACILE Il y a aujourd’hui une demande croissante pour des systèmes d’inspection par rayons X, à la fois flexibles, à haute résolution et d’un bon rapport coût/ performance, permettant de prendre en charge des composants électriques de plus en plus petits tout en respectant les normes qualités les plus strictes. Avec les appareils de la gamme XT V, vous irez au coeur des circuits imprimés ou des composants électroniques, en douceur, grâce à un procédé non destructif. En se reposant sur les avantages de la gamme XT V, les fabricants peuvent se...
Ouvrir le catalogue en page 2Avec l'arrivée des composants miniaturisés et des technologies de circuits imprimés 3D, les systèmes modernes d'inspection par rayons X doivent fournir des images les plus nettes possibles, avec une productivité sans faille, pour faire le travail correctement ! Interconnectivité des CI des galettes de silicium : WLFP ou WL-CSP, circuits imprimés 3D, SIP Les systèmes XT V conviennent non seulement à l'inpection des composants électroniques, mais aussi à l'inspection par rayons X et par Tomographie Numérique d'une grande variété de petits composants. Le grand plateau peut recevoir différents...
Ouvrir le catalogue en page 3AU COEUR DE L'IMAGE Les sources rayons X de Nikon Metrology sont au coeur de notre technologie. Nous les concevons et nous les fabriquons nous-mêmes. C'est ce qui permet à Nikon Metrology de s'adapter rapidement au marché et de développer des solutions complètes et innovantes pour les différentes applications. Bénéficiez d'un faible coût de possession, d'une maintenance réduite, et d'une grande fiabilité grâce à la technologie à tube ouvert et au générateur de tension intégré qui permet de ne pas avoir à recourir à un câble haute tension, qui requiert, lui, une maintenance régulière.
Ouvrir le catalogue en page 4AVEC LA PRÉCISION ADÉQUATE Les systèmes XT V sont fournis avec un manipulateur d’échantillon de très grande précision et, en option, d’un axe rotatif pour la Tomographie Numérique. Dans la configuration verticale, le tube rayons X est sous le support d’échantillon et l’imageur pivotant est commandé par le logiciel Inspect-X, très convivial, ou par un joystick très précis. Même sous une inclinaison maximale, la table rotative du XT V 160 premium peut effectuer de nombreuses rotations afin, comme le ferait un hélicoptère, d’offrir des vues en perspective de la zone d’intérêt, même sous un...
Ouvrir le catalogue en page 5AU TOP DE LA QUALITÉ XT V 160 – Inspection par rayons X Spécifiquement conçu pour être utilisé sur les lignes de production et dans les laboratoires d’analyse des ruptures, le XT V 160 peut être configuré avec des composants système de toute première qualité afin d’optimiser ses performances en fonction de vos besoins. En plus de l’inspection manuelle en temps réel, le processus d’inspection peut être entièrement automatisé pour maximiser la productivité. • Source microfocus NanoTech 160kV / 20W brevetée avec reconnaissance des entités inférieures au micron. • Caméra 1,45 Mpixel 12bits avec...
Ouvrir le catalogue en page 6ET DE L’ÉCONOMIE XT V 130C - Inspection par rayons X extrêmement rentable Le XT V 130C est un système d’inspection des composants électroniques et des semi-conducteurs, très flexible et très rentable. Le système comprend une source 130 kV/10 W fabriquée par Nikon Metrology, un tube ouvert apprécié mondialement, avec un générateur intégré, et une chaîne d’imagerie à haute résolution. L’utilisateur final peut, grâce aux mises à jour apportées en usine et sur le terrain, configurer son système en fonction de ses propres besoins, avec un plateau d’échantillon rotatif, un écran plat numérique...
Ouvrir le catalogue en page 7INSPECTION EN TEMPS RÉEL Il est essentiel d’avoir un logiciel convivial pour évaluer la structure interne complexe des échantillons et réaliser une inspection précise. Le logiciel Inspect-X a été conçu entièrement pour les utilisateurs de rayons-X, cela en fait un logiciel intuitif et productif. Inspect-X s’articule autour des flux de travail de l’utilisateur final afin de réduire la courbe d’apprentissage et de minimiser le nombre de clics de souris inutiles. Inspect-X vous fournit tous les moyens pour vous guider et vous permettre d’obtenir l’information requise, grâce à sa visualisation...
Ouvrir le catalogue en page 8ET ANALYSE DE NIVEAU SUPÉRIEUR ANALYSE ET TRAITEMENT D’IMAGE La prise de décisions rapides en temps réel exige d’avoir des images nettes et cristallines. L’outil d’images en temps réel C.Clear permet aux opérateurs d’identifier de manière sûre les défauts sans perte de temps à retravailler les images. C.Clear s’ adapte intelligemment à l’évolution des conditions de rayons X et des positions des échantillons, ajuste automatiquement les réglages d’image les contrastes et la luminosité afin de fournir des images les plus nettes possibles pour aider à la reconnaissance des défauts. • Des...
Ouvrir le catalogue en page 9Tous les catalogues et fiches techniques (PDF) Nikon Metrology
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VOXLS 40 C 450
5 Pages
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bw series
8 Pages
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NEXIV VMZ R-Series
16 Pages
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CMM-Manager for iNEXIV
4 Pages
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CMM-Manager
8 Pages
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MCT225
4 Pages
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MCAx-MM
8 Pages
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LC60Dx
4 Pages
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LC15Dx
8 Pages
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Laser Radar General
6 Pages
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XC65Dx(-LS)
2 Pages
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L100 scanner laser
8 Pages
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Focus
6 Pages
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K-Scan MMDx - K-CMM
4 Pages
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BW-Series
8 Pages
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XT V SERIES
7 Pages
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XT H 225 ST 2x
7 Pages
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VOXLS 30 SERIES
15 Pages
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XT H Series
7 Pages
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APDIS Automotive
7 Pages
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Industrial X-ray and CT
7 Pages
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NEXIV VMZ-S
5 Pages
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Autocollimator
4 Pages
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X-ray CT inspection services
1 Pages
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Overview brochure
40 Pages
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NEXIV VMZ-K Series
5 Pages
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NEXIV VMZ-H3030
3 Pages
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Microscope components
17 Pages
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Laser Radar Aerospace
6 Pages
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CAMIO8
16 Pages
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ALTERA CMM
8 Pages
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Newsmagazine Vol.13
28 Pages
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NWL200
5 Pages
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Eclipse MA200-MA100N
12 Pages
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Eclipse LV-N Microscopes
9 Pages
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VMZ-R Series
7 Pages
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MM-Series
15 Pages
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Stereo microscopes
32 Pages
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AZ100M-AZ100
20 Pages
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NIS-Elements
20 Pages
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Digital sight series
9 Pages
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Nikon Metrology Solutions
40 Pages
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Profile Projectors
12 Pages
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XT H Series
12 Pages
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Automated CT
8 Pages
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Configurable X-ray CT systems
12 Pages
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iNEXIV VMA series
5 Pages
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JEOL Smart Coater
2 Pages
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JCM 6000 Plus Neoscope
16 Pages
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iSpace Assembly Fabrication
4 Pages
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iSpace
6 Pages
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H14L
4 Pages
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eclipse E200pol
3 Pages
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Auto MeasureEyes
2 Pages
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gehl-kseries
2 Pages
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X.Tract
2 Pages
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Nikon Metrology News Vol.10
28 Pages
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Nikon Metrology News Vol.9
28 Pages
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LV100N POL Ci POL
5 Pages
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LV-DAF Brochure
2 Pages
Catalogues archivés
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K-Robot
2 Pages
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LC60D
2 Pages
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LC15
2 Pages
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XC50-LS
2 Pages
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NEXIV VMR Brochure
5 Pages
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Intensilight Brochure
3 Pages
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Eclipse L200 Series
5 Pages
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Eclipse LV Series Brochure
10 Pages
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Eclipse LV100-UDM-POL
3 Pages
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Neoscope JCM-6000 Brochure
6 Pages
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stereomicroscope SMZ1000
7 Pages
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Neoscope Brochure
4 Pages
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Optistation-3100
2 Pages
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AMI-3000
2 Pages
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COOLSCOPE
8 Pages
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BioStation IM
5 Pages
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BioStation CT
8 Pages
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Neoscope Brochure
4 Pages
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DXM-1200C
6 Pages
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Optistation-3100
2 Pages
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AMI-3000
2 Pages
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Eclipse FN1
7 Pages
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Eclipse E100 Brochure
5 Pages
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Fluorescence Filter Blocks
6 Pages
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Eclipse 50i/55i Accessories
5 Pages
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Laser TIRF System
7 Pages
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Eclipse TS100/TS100F
8 Pages
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Eclipse Ti Brochure
15 Pages
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Eclipse TE2000 Brochure
28 Pages
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COOLSCOPE
8 Pages
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BioStation IM brochure
5 Pages
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BioStation CT brochure
8 Pages